LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий - Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В., Папуловский В.Ф.
Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В., Папуловский В.Ф.

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

Автор Батоврин В.К. Бессонов А.С. Мошкин В.В. Папуловский В.Ф.
Издательство ДМК Пресс
Год 2005
Формат PDF
Рейтинг книги
0.00
(оценок < 5)
0 10

Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений и методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Основой представленного в настоящем издании практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW. Программное обеспечение является оригинальной разработкой авторов учебного пособия и представлено на компакт-диске, поставляемым с книгой.



X